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SEMICON & OPTO半导体设备

半导体设备

晶圆/芯片测试

ficonTEC T1200 晶圆测试设备

  1. 适应能力6至12英尺晶圆

  2. 可测试方法IL/PDL/RF/DC

  3. 晶圆级检查

  4. 光栅藕合/边藕合测式

  5. 迅猛解耦 (<1s)

  6. 极高交叉耦合重复使用性 (<0.1dB)

  7. 的设备尽寸: 1200X1200X2000